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Collection Science des matériaux dirigée par Yves Rémond
306 pages - Septembre 2017
Ouvrage papier en couleur : 75,00 EUR
ISBN : 978-1-78405-308-6 (papier)
ISBN : 978-1-78406-308-5 (ebook)
Pédagogique, la série Rayons X et Matière offre une synthèse de référence des différents aspects de l’interaction entre le rayonnement X et la matière, qu’il s’agisse de développements instrumentaux, d’approches méthodologiques ou d’applications de l’étude de cette interaction à un champ scientifique spécifique.
Ce cinquième volume présente des considérations de principe décrivant la diffusion des rayons X et s’étend jusqu’à des applications particulières en passant par la description de certaines méthodes expérimentales spécifiques.
Les chapitres, rédigés par des auteurs reconnus, correspondent à des conférences invitées qui ont été présentées lors du colloque Rayons X et matière – RX2013.
Les coordonnateurs
René Guinebretière est professeur à l’université de Limoges. Il enseigne la diffraction des rayons X et la physique des matériaux. Ses recherches portent sur l’élaboration et la caractérisation par diffusion et diffraction des rayons X de nanomatériaux oxydes au sein du laboratoire SPCTS associé au CNRS.
Philippe Goudeau est directeur de recherche au CNRS au sein du département physique et mécanique des matériaux de l’institut Pprime de l'université de Poitiers. Ses recherches concernent l’étude des effets de microstructure et de taille sur les propriétés mécaniques des films minces par diffraction des rayons X en laboratoire et sur des sources synchrotrons.
1. Diffusion diffuse : ordre-désordre, transitions de phase
2. La diffusion centrale des rayons X en incidence rasante pour l’étude des surfaces et films minces nanostructurés
3. Analyse avancée des contraintes et des gradients d’orientation par microdiffraction Laue des rayons X
4. Rayonnement synchrotron à haute énergie et diffraction des rayons X in situ
5. Rayons X et géomatériaux à hautes pressions et hautes températures : une fenêtre ouverte sur l’intérieur de la Terre
6. Imagerie et composition élémentaire par spectrométrie en fluorescence X : exemples d’applications en géosciences
7. La diffraction des rayons X : un outil essentiel pour l’étude et l’optimisation des matériaux d’électrodes pour batteries
8. Matériaux de gainage pour les réacteurs nucléaires actuels et du futur ; apport des techniques de diffraction
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