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Défauts à l’échelle nanométrique en lumière polarisée

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Pierre Richard Dahoo, Université de Versailles Saint Quentin
Philippe Pougnet, Valeo
Abdelkhalak El Hami, INSA Rouen

Série Fiabilité des systèmes multiphysiques coordonnée par Abdelkhalak El Hami
Collection Génie mécanique et mécanique des solides


290 pages - Juillet 2016
Ouvrage papier en couleur : 72,00 EUR
ISBN : 978-1-78405-165-5 (papier)
ISBN : 978-1-78406-165-4 (ebook)


La série Fiabilité des systèmes multiphysiques s’intéresse aux avancées de la recherche et de l’industrie appliquées aux domaines de l’optimisation, de la fiabilité et de la prise en compte des incertitudes des systèmes. Ce couplage est à la base de la compétitivité des entreprises dans les secteurs de l’automobile, de l’aéronautique, du génie civil ou de la défense.

Par son approche interdisciplinaire, la mécatronique permet l’intégration en synergie de la mécanique, de l’électronique, de l’automatique et de l’informatique dans la conception et la fabrication d’un produit en vue d’optimiser sa fonctionnalité.

Cet ouvrage étudie la détection des défauts de matériaux par la lumière polarisée à partir d’une analyse optimisée des données expérimentales basée sur des modèles statistiques et théoriques. Les méthodes mises en oeuvre dans le cadre de recherches fondamentales sur les matériaux innovants sont explicitement décrites.

Défauts à l’échelle nanométrique en lumière polarisée développe également les différentes théories sur la lumière, ses états de polarisation et son interaction avec la matière. Il présente les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde qui permettent de caractériser les défauts des matériaux susceptibles d’impacter la performance d’un produit.


Les auteurs


Spécialiste en modélisation et spectroscopie, Pierre Richard Dahoo est professeur à l’université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines (UVSQ), chercheur au LATMOS et Program Manager de la chaire Materials Simulation and Engineering de l’UVSQ.

Expert en fiabilité à Valeo et à Vedecom, Philippe Pougnet est docteur ingénieur de l’université scientifique et médicale de Grenoble et ingénieur INPG, responsable du management de la fiabilité de systèmes mécatroniques fabriqués en grande série.

Spécialiste en optimisation, fiabilité et dynamique des structures, Abdelkhalak El Hami, professeur à l’INSA-Rouen, est responsable de la chaire de mécanique du CNAM en Normandie et de plusieurs projets pédagogiques européens.

 

Sommaire

PREMIÈRE PARTIE. INCERTITUDES ET APPROCHES STATISTIQUES EN CONCEPTION
1. Incertitudes
2. Optimisation fiabiliste
DEUXIÈME PARTIE. THÉORIE ET EXPÉRIMENTATION EN LUMIÈRE POLARISÉE
3. La dualité onde-corpuscule de la lumière
4. Etats de polarisation de la lumière
5. Interaction lumière-matière
6. Expérimentation et modèles théoriques
TROISIÈME PARTIE. CARACTÉRISATION DE NANODÉFAUTS ET DE NANOMATÉRIAUX
7. Défauts en milieu hétérogène
8. Défauts aux interfaces
9. Application aux nanomatériaux

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